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產(chǎn)品詳情
  • 產(chǎn)品名稱:日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 產(chǎn)品廠商:日立(Hitachi)
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簡單介紹:
上海鑄金分析儀器有限公司供應(yīng)多系列的手持式光譜儀:手持式XRF光譜儀、手持式紅外光譜儀、手持式LIBS光譜儀、手持式拉曼光譜儀等。日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀是性價(jià)比較高、分析快速、操作簡單、結(jié)實(shí)耐用的進(jìn)口品牌手持式X射線熒光光譜儀。日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀提供*好的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測(cè)限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。
詳情介紹:

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀

為什么選擇X-MET手持X射線熒光光譜儀

**性能

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀提供*好的輕元素 (鎂、鋁、硅、磷、硫、氯)分析,檢測(cè)限度低,且可每天提供準(zhǔn)確可靠結(jié)果。

通過靈活的基本參數(shù)法(FP)法進(jìn)行分析,從而測(cè)試多種材料;或若需結(jié)果可追溯和高度準(zhǔn)確,則使用實(shí)證校準(zhǔn)。

操作簡單

大觸摸屏和基于圖標(biāo)的用戶界面,使用戶只需要*少的培訓(xùn)便可開始操作。

符合人體工學(xué)

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀輕便(僅1.5公斤)、簡潔、平衡性好,可供長時(shí)間使用,而疲勞度*低。

堅(jiān)固耐用而擁有成本低

符合IP54要求(等同于NEMA 3)、防水、防塵的X-MET可供室內(nèi)外使用。

通過MIL-STD-810G**耐用標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

其可選的防扎窗口膜可預(yù)防在粗糙表面上測(cè)量導(dǎo)致探測(cè)器損壞而出現(xiàn)的高昂維修費(fèi)用。

上等數(shù)據(jù)管理

完全靈活:可將多達(dá)100,000條結(jié)果保存在X-MET上,將報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī),或自動(dòng)將X-MET數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在LiveData云端。

 

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀應(yīng)用

                     儀器型號(hào)

功能用途           

X-MET8000
Smart

X-MET8000
Optimum

X-MET8000
Expert

廢金屬回收

 ?

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材料可靠性鑒定(PMI)檢查

 

 ?

 ?

制造與 PMI QA/QC

 ?

 ?

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貴金屬

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 ?

監(jiān)管機(jī)構(gòu)合規(guī)篩查

(消費(fèi)品、包裝、原材料

 

 ?

 ?
X-MET8000
Expert CG

環(huán)境土壤篩查

 

 

 ?
X-MET8000
Expert Geo

環(huán)境土壤篩查

 

 

?
X-MET8000
Expert Geo

金屬鍍層厚度測(cè)量

?

?

?
X-MET8000
Expert 
/ Expert CG

科技考古

 

?

?
X-MET8000
Expert 
/ Expert CG 
/ Expert Geo

 

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于QA/QC

為預(yù)防潛在產(chǎn)品事故及其昂貴的后果,在不同生產(chǎn)階段中進(jìn)行質(zhì)量控制和質(zhì)量**至關(guān)重要。通過手持式X射線熒光(HHXRF),您可以在進(jìn)料送達(dá)時(shí)進(jìn)行快速檢查,并且確認(rèn)從制造到送貨過程中使用了合格的合金材料。

為何選擇X-MET8000系列手持式合金分析儀來完成此任務(wù)?

X-MET提供:

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準(zhǔn)確的合金 牌號(hào)鑒定提供多種和可定制的合金 牌號(hào)數(shù)據(jù)庫

★堅(jiān)固耐用而擁有成本低

★使用方便:用戶幾乎不需培訓(xùn)

★多樣化數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)到分析儀、創(chuàng)建測(cè)試報(bào)告或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù),隨時(shí)隨地管理您的數(shù)據(jù)。

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于材料可靠性鑒定

材料可靠性鑒定(PMI)計(jì)劃使工廠操作員和維修員可測(cè)試安裝前后的關(guān)鍵流程組件,以**資產(chǎn)完整性,并預(yù)防潛在的災(zāi)難性故障。通過手持式X射線熒光分析儀(HHXRF),您可以在幾秒內(nèi)在現(xiàn)場(chǎng)上確認(rèn)合金的牌號(hào)及其元素化學(xué)成分。您無需再依賴供應(yīng)商的認(rèn)證。

為何選擇 X-MET8000 手持式光譜儀進(jìn)行PMI檢查?

★為快速和可靠金屬分析提供上等性能

★為準(zhǔn)確的合金鑒定提供多種和可定制的等級(jí)數(shù)據(jù)庫。

★牢固耐用而擁有成本低

★使用方便:幾乎不需用戶培訓(xùn)

★以完成任務(wù)為主的設(shè)計(jì):便于使用的上等人體工學(xué),優(yōu)化的設(shè)計(jì),以便檢測(cè)難以到達(dá)位置的材料(如彎曲處和角落)

★多樣化數(shù)據(jù)管理:可將結(jié)果保存在分析儀上、將定制報(bào)告輸出到U盤或個(gè)人計(jì)算機(jī),或使用應(yīng)用程序或云服務(wù)存儲(chǔ)并分享您的數(shù)據(jù)。

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于廢舊金屬回收

每年,*過4億噸廢金屬被處理。通過檢測(cè)對(duì)廢金屬進(jìn)行分類,從將混合廢料分類為低價(jià)值和高價(jià)值材料,到確定進(jìn)入熔體的廢料成分和產(chǎn)出質(zhì)量,金屬回收過程中的各個(gè)階段都可增加價(jià)值。我們的X-MET分析儀被用于在世界各地的廢金屬加工和回收市場(chǎng),為金屬回收過程中的每個(gè)階段增添價(jià)值。

為什么選擇X-MET8000?

★通過精  確的合金 牌號(hào)鑒定和元素化學(xué)分析(包括分析雜質(zhì)和懲罰元素),*大限度地提高生產(chǎn)力和利潤

★檢測(cè)合金、廢催化轉(zhuǎn)換器和其他材料

★易于使用:在幾秒后即可開始測(cè)試;幾乎無需用戶培訓(xùn)

★堅(jiān)固耐用:IP54評(píng)級(jí)(密封防塵和防濺水),并通過MIL-STD 810G檢測(cè),堅(jiān)固耐用

★擁有成本低:我們的可選防扎窗口在測(cè)量轉(zhuǎn)角和其他尖銳物體時(shí)保護(hù)分析儀的檢測(cè)器,避免昂貴的維修

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理:將數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在分析儀、U盤,或用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)與同事和買家實(shí)時(shí)分享結(jié)果

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于采礦

X-MET8000手持式XRF (HHXRF)分析儀在采礦的多個(gè)階段——從早期探索到現(xiàn)場(chǎng)關(guān)閉后的環(huán)境監(jiān)控——提供快速、現(xiàn)場(chǎng)的地球化學(xué)分析。這*大減少了對(duì)實(shí)驗(yàn)室分析的需求,加快了決策過程并降低了檢測(cè)成本。

為什么選擇X-MET8000 Expert Geo

★**的性能:我們的革  命性BOOST?技術(shù)和大面積硅漂移探測(cè)器提供相當(dāng)于其他HHXRF型號(hào)10倍的靈敏度,提供測(cè)量探路儀或懲罰元件所需的低限探測(cè)范圍。

★快速分析:在幾秒鐘內(nèi)測(cè)量多達(dá)40個(gè)元素;快速完成測(cè)試程序。

★因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時(shí)間縮至*短。

★出色的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可信賴結(jié)果。

★易于使用:幾乎不需要用戶培訓(xùn)。

★內(nèi)置GPS:將地理坐標(biāo)與測(cè)試結(jié)果相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)上乘的站點(diǎn)映射。

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時(shí)隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果。

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于土壤重金屬檢測(cè)

土壤污染逐漸由工業(yè)流程(如采礦和制造)、農(nóng)業(yè)(使用肥料和殺蟲劑)或廢物處理(如錯(cuò)誤地進(jìn)行垃圾填埋)等人類活動(dòng)造成。

暴露在某些污染物中如鉛和鎘等元素對(duì)人體健康有害,許多**已經(jīng)制定了相關(guān)法規(guī)和方案,以識(shí)別污染區(qū)域并管理修復(fù)過程(補(bǔ)救)。

例如,作為美國廢物管理計(jì)劃的一部分,美國環(huán)保局引入了6200標(biāo)準(zhǔn),通過現(xiàn)場(chǎng)便攜式/手持式X射線熒光(XRF)光譜法,確定土壤和沉積物中的關(guān)鍵元素。

操作者可以使用HHXRF,快速在現(xiàn)場(chǎng)篩選重金屬和其他污染物。這使他們能夠*大減少送到場(chǎng)外實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行分析的樣本數(shù)量,并降低了分析成本和完成測(cè)試程序所需的時(shí)間。通過孤立問題區(qū)域和在現(xiàn)場(chǎng)確定補(bǔ)救邊界,操作者可*大限度地減少土壤處理和處置成本。

為何選擇X-MET8000 Expert Geo?

★**的性能:利用我們革  命性的BOOST?技術(shù)和大面積硅漂移探測(cè)器,滿足當(dāng)今和未來的檢測(cè)要求。它們提供了相當(dāng)于其他HHXRF型號(hào)10倍的靈敏度,為測(cè)量土壤、污泥和沉積物中關(guān)鍵元素(例如美國EPA 6200方法RCRA和優(yōu)先元素)提供所需的低檢測(cè)限制

★快速分析:快速完成調(diào)查

★杰出的穩(wěn)定性:無論天氣如何,您都可以信賴結(jié)果。

★因牢固耐用而降低擁有成本,并使停工時(shí)間縮至*短

★易于使用:幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★嵌入式GPS:將地理坐標(biāo)與測(cè)試結(jié)果相結(jié)合,實(shí)現(xiàn)上乘的站點(diǎn)映射。

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理功能:隨時(shí)隨地通過藍(lán)牙打印機(jī)打印結(jié)果,并將其附在樣本袋上,以避免混淆;將其導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)隨時(shí)隨地實(shí)時(shí)管理結(jié)果

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于合規(guī)性檢測(cè)

無論您是電子設(shè)備、兒童產(chǎn)品和其他消費(fèi)品的制造商、零售商或進(jìn)口商,您都將受到關(guān)于限制有害物質(zhì)(RoHS)以及其他指令(例如2008CPSIA - 消費(fèi)者產(chǎn)品**改進(jìn)法、包裝指令,WEEE - 電子電氣設(shè)備廢棄物、CA 65號(hào)等)的影響。這些指令已經(jīng)在不同的地區(qū)被制定,以提高產(chǎn)品的**性,并通過控制產(chǎn)品的“上游”來源和處理技術(shù),減少環(huán)境污染物。這一立法影響到全球各個(gè)行業(yè),包括原材料供應(yīng)商,組件和成品制造商和零售商。

通過X射線熒光(XRF)進(jìn)行合規(guī)性篩查,提供了被測(cè)組件元素化學(xué)成分的信息。因其速度快且無損,因此被廣泛使用,且收到標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)程序(如IEC 62321方法)的支持。

為什么選擇X-MET8000 Expert CG?

★完全便攜:小巧輕便,X-MET可被帶到需要分析的地方(例如進(jìn)貨檢驗(yàn)、倉庫、從工廠到工廠)

★快速而準(zhǔn)確地篩選各種材料(例如聚合物、合金)

★快速:當(dāng)場(chǎng)做出接受/拒*決

★易于使用:幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★可選的小光斑準(zhǔn)直器(直徑3毫米):通過將其與周圍材料隔離,精   確檢測(cè)小特征

★集成攝像頭:清楚看到您檢測(cè)的下面

★強(qiáng)大的數(shù)據(jù)管理:將結(jié)果存儲(chǔ)在分析儀上、將報(bào)告導(dǎo)出到U盤,或使用我們的應(yīng)用程序和云服務(wù)實(shí)時(shí)管理您的數(shù)據(jù)

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于鍍層測(cè)厚

金屬涂層在許多行業(yè)中被使用,并被用于裝飾用途(如鏡面拋光、金色),以增強(qiáng)耐腐蝕性、提高可焊性、增加硬度、減少摩擦和磨損等等。

為**所覆涂層的厚度足以賦予零件和部件其所需的性能,且不會(huì)因涂層過厚而浪費(fèi)材料,電鍍公司需控制其工藝,并檢查*終產(chǎn)品是否符合規(guī)格。

基于X射線熒光(XRF)的涂層厚度測(cè)量是一種被廣泛接受和被業(yè)界認(rèn)可的分析技術(shù)。手持式XRF提供**的多功能性:您可以將分析儀帶到需要測(cè)試的地方。

為什么選擇X-MET8000?

★操作簡單:X-MET擁有“對(duì)準(zhǔn)—拍攝”的直觀用戶界面;幾乎不需要用戶培訓(xùn)

快速、非破壞性的分析:快速制定流程變更決定;被檢零件無刮痕或其他損壞;不浪費(fèi)

★多功能:分析涂層和未涂層零件以及電鍍液

★檢測(cè)笨重和大型項(xiàng)目的**之選

★堅(jiān)固耐用:IP54評(píng)級(jí)(密封防塵和防濺水),通過MIL-STD 810G檢測(cè),堅(jiān)固耐用,X-MET為在惡劣環(huán)境使用而設(shè)計(jì)

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于考古

手持式X射線熒光(HHXRF)經(jīng)常被用于藝術(shù)和歷史文物的鑒定、保存和修復(fù)過程。這是一種非侵入式的技術(shù),可以在幾秒鐘內(nèi)識(shí)別油墨、顏料、陶瓷、青銅和其他合金,無需采樣或準(zhǔn)備測(cè)試品。分析可以顯示物品或部件的日期和/或出處,例如檢測(cè)釉中的特定顏料,識(shí)別僅在特定時(shí)期被使用的瓷器 。手持式XRF分析還可以通過檢查物體表面的元素組成,確定物體的哪一部分被修補(bǔ),并且可輕松發(fā)現(xiàn)差異。

為什么選擇X-MET8000?

★**的性能:快速分析和低檢測(cè)限制,可靠識(shí)別微量元素

★多用途:對(duì)各種材料進(jìn)行定性和定量分析;使用X-MET的標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn),或根據(jù)您的具體要求進(jìn)行創(chuàng)建

★集成攝像頭:將X-MET**定位在要檢測(cè)的物體上

★可選的小光斑準(zhǔn)直器(直徑3毫米):將小的特征與周圍的材料分隔開,以獲得針點(diǎn)分析精度

★多種輻射**配件

 

▲手持式XRF光譜儀應(yīng)用于貴金屬和珠寶檢測(cè)

手持式X射線熒光(HHXRF)分析儀通常被用于檢測(cè)珠寶和其他貴金屬物品(如硬幣、銀器),以檢驗(yàn)真?zhèn)尾⒋_定其價(jià)值。貴金屬(如金(Au)和鉑(Pt))的高價(jià)格意味著,成分的微小差別會(huì)產(chǎn)生巨大的產(chǎn)品價(jià)值差異。 HHXRF具有許多優(yōu)點(diǎn):快速、無損(對(duì)被測(cè)物品無劃痕或損壞、不會(huì)造成材料損失),并可為大型和小型貴金屬物品提供多元素分析。

為什么選擇X-MET8000

★快速準(zhǔn)確:高分析吞吐量,使生產(chǎn)力和盈利能力*大化

多用途:分析有價(jià)金屬、雜質(zhì)和有毒元素(如鉛和鎘),以確定可能有害的物品

★完全便攜:X-MET8000小巧輕便(含電池重量5工具),可隨時(shí)隨地被運(yùn)輸和使用。燈架可被放入分析儀的運(yùn)輸箱內(nèi)

★易于使用:直觀的用戶界面;幾乎不需要用戶培訓(xùn)

★可選的集成攝像頭和小光點(diǎn)準(zhǔn)直器:了解您正在檢測(cè)的內(nèi)容

 

 

日立手持式XRF光譜儀|X-MET系列手持X射線熒光分析儀型號(hào)比較

X-MET8000 Smart

X射線管:40kV

濾光片:單一

檢測(cè)器:大面積 SDD

*高樣本溫度:400oC

符合 IP54 等級(jí)

Thick Kapton®窗口:保護(hù)以預(yù)防探測(cè)器的窗戶損壞

校準(zhǔn):基本參數(shù)法(FP)

內(nèi)置攝像頭 (可選)

X-MET8000 Optimum

X射線管:40kV or 50kV

濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測(cè)器:大面積 SDD

*高樣本溫度:100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級(jí)

可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn):基本參數(shù)法 (包括輕元素分析)

內(nèi)置攝像頭(可選)

小光班準(zhǔn)直器(可選)

針對(duì)所有元素(從鎂到鈾)進(jìn)行優(yōu)先分析的六位濾光片

X-MET8000 Expert

X射線管:50kV

濾光片:6位濾光轉(zhuǎn)換器

檢測(cè)器:大面積 SDD

*高樣本溫度:100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC(可選)

符合 IP54 等級(jí)

可選窗口防護(hù)罩:預(yù)防檢測(cè)器的窗口損壞進(jìn)行保護(hù)

校準(zhǔn)方法:自動(dòng)跳轉(zhuǎn)的經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法(可進(jìn)行追溯)

內(nèi)置攝像頭

小光班準(zhǔn)直器 (可選)

針對(duì)所有元素,從鎂到鈾,的優(yōu)先分析的六位濾光片

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